吉時利數(shù)字萬用表通常采用恒流方法來測量電阻，該方法為被測設(shè)備 (DUT)提供恒定電流 (I SOUR ) 并測量電壓 (V MEAS )。然后使用已知電流和測量電壓 (R DUT = V MEAS /I SOUR )計算并顯示電阻 (RDUT )。

　　圖 1. 兩線測試配置中的恒流電阻測量方法。

　　提供給 DUT 的測試電流取決于所選的測量范圍(表 1)。例如，對于 100Ω 量程，測試電流為 1mA。由于典型 DMM 的電壓表具有非常高的輸入阻抗，因此幾乎所有測試電流 (1mA) 都流經(jīng) DUT。

　　表 1. – 典型 DMM 范圍和測試電流

　　兩線電阻測量

　　圖 2 表示采用恒流方法的兩線電阻測試配置。

　　圖 2. 兩線電阻測量原理圖。

　　應(yīng)用于低電阻測量的兩線法的主要測量問題是總引線電阻 (RLEAD) 被添加到測量中。由于測試電流 (I) 會導致引線電阻上的電壓降很小但很明顯，因此儀表測量的電壓 (VM) 不會與直接通過測試電阻 (R) 的電壓 (VR) 完全相同，并可能導致相當大的錯誤。典型的引線電阻范圍為 10mΩ 到 1Ω，因此當被測電阻低于 100Ω 時，很難獲得準確的兩線電阻測量，因為感興趣的電阻將完全被引線電阻淹沒。事實上，引線電阻將是主要的誤差來源。例如，使用 100mΩ 組合電阻的測試線對 500mΩ 電阻進行兩線電阻測量，除了儀器誤差外，還會產(chǎn)生 20% 的測量誤差。由于兩線法的局限性，另一種方法用于降低測試引線電阻影響的低電阻測量。為了測量電阻等于或小于 1kΩ 的 DUT，測試工程師可以使用圖 3 中所示的四線 (Kelvin) 連接。因為電壓是在 DUT 上測量的，所以消除了測試引線中的壓降(這個電壓可以測量低電阻器件時非常重要)。一種不同的方法用于降低測試引線電阻影響的低電阻測量。為了測量電阻等于或小于 1kΩ 的 DUT，測試工程師可以使用圖 3 中所示的四線 (Kelvin) 連接。因為電壓是在 DUT 上測量的，所以消除了測試引線中的壓降(這個電壓可以測量低電阻器件時非常重要)。一種不同的方法用于降低測試引線電阻影響的低電阻測量。為了測量電阻等于或小于 1kΩ 的 DUT，測試工程師可以使用圖 3 中所示的四線 (Kelvin) 連接。因為電壓是在 DUT 上測量的，所以消除了測試引線中的壓降(這個電壓可以測量低電阻器件時非常重要)。

　　使用這種配置，測試電流 (I) 通過一組測試引線強制通過測試電阻 (R)，而 DUT 上的電壓 (VM) 通過第二組引線(感應(yīng)引線)測量。

　　圖 3. 四線電阻測量配置。

　　盡管一些小電流(通常小于 100pA)可能會流過感應(yīng)引線，但它通常可以忽略不計，并且在所有實際用途中通常可以忽略不計。因此，儀表測量的電壓 (VM) 與電阻 (R) 兩端的電壓 (VR) 基本相同。

　　因此，電阻值的確定比兩線法要準確得多。請注意，電壓感應(yīng)引線應(yīng)盡可能靠近被測電阻器連接，以避免在測量中包含測試引線的部分電阻。

　　吉時利的2110-220型5位半USB數(shù)字萬用表支持 100Ω、1kΩ、10kΩ、100kΩ、1MΩ、10MΩ 和 100MΩ 的電阻測量范圍的兩線和四線配置。

　　生產(chǎn)測試應(yīng)用

　　吉時利2110數(shù)字萬用表可完美應(yīng)用于低成本電子器件、電路、模塊、電子元件以及半導體元件的手動、半自動以及自動化測試。關(guān)鍵特性包括：

　　速度：高達50,000讀數(shù)每秒

　　控制：GPIB(可選)以及USB接口，支持SCPI(IEEE-488.2)命令

　　外部BNC觸發(fā)線

　　NIST跟蹤能力(包括校準證書)

　　一般用途應(yīng)用

　　吉時利2110數(shù)字萬用表還可完美用于研究、開發(fā)、維修、校準以及教學等臺式應(yīng)用。針對臺式應(yīng)用的特性包括：

　　精度：0.012%的基本DCV精度

　　易于操作的面板

　　帶有KI-Tool及KI-Link，易于繪制波形和收集數(shù)據(jù)

　　存儲多達2000個讀數(shù)。

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